簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "技術".ckeyword (精準) and ckeyword.raw="去嵌入技術"


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    自動夾具移除之去嵌入技術頻寬限制原因探討
    • 電子工程系 /109/ 碩士
    • 研究生: 郭羿德 指導教授: 林丁丙
    • 目前在特性元件的量測中有兩種方式分別是:測試夾具法(Test Fixture Measurement)、晶圓級量測法(On-Wafer Measurement),使用測試夾具法時,會產生不屬於待測物…
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    • 全文公開日期 2024/09/01 (校內網路)
    • 全文公開日期 2024/09/01 (校外網路)
    • 全文公開日期 2024/09/01 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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